臺式掃描電鏡操作簡便、成本較低,適用于材料的常規(guī)分析與質(zhì)量控制。在材料生產(chǎn)企業(yè)中,易用高效掃描電鏡用于快速檢測原材料的顆粒形貌、尺寸分布,以及產(chǎn)品表面的缺陷篩查等,為生產(chǎn)過程提供及時(shí)反饋。
更新時(shí)間:2025-11-19
產(chǎn)品型號:CEM3000
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VT6000系列3D輪廓尺寸共聚焦顯微鏡主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級測量,具備表征微觀3D形貌的輪廓尺寸及粗糙度測量功能;以及2)二維平面輪廓尺寸的影像測量功能,可進(jìn)行長度、角度、半徑等尺寸測量。
更新時(shí)間:2025-11-17
產(chǎn)品型號:VT6100
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SuperViewW工業(yè)表面3D檢測白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時(shí)間:2025-11-17
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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中圖儀器國產(chǎn)電鏡標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
更新時(shí)間:2025-11-17
產(chǎn)品型號:CEM3000
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中圖儀器高分辨率sem掃描電鏡品牌具有空間自由+高效精準(zhǔn)+定制適配+可靠保障的特點(diǎn),能夠解決檢測場地受限、操作復(fù)雜拖慢進(jìn)度、振動環(huán)境下數(shù)據(jù)不準(zhǔn)測量痛點(diǎn)。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
更新時(shí)間:2025-11-13
產(chǎn)品型號:CEM3000
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SuperView W1系列納米級白光干涉三維形貌儀以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標(biāo)準(zhǔn)參數(shù),一站式解決超精密測量精度不足、多材質(zhì)適配難、批量檢測效率低等測量難題。應(yīng)用覆蓋半導(dǎo)體、3C電子等多行業(yè)場景,數(shù)據(jù)驅(qū)動檢測,賦能精密制造升級。
更新時(shí)間:2025-11-11
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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