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SuperViewW系列3D光學(xué)輪廓儀檢測(cè)儀器0.1nm分辨率搭配0.1nm形貌重復(fù)性(STR)、0.005nm粗糙度RMS重復(fù)性,連續(xù)10次測(cè)量Sa=0.2nm硅晶片,數(shù)據(jù)偏差<0.001nm,符合ISO 25178、ISO 10610等300余種國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-12-09
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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SuperViewW光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)以0.1nm級(jí)分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標(biāo)準(zhǔn)參數(shù),一體化高精度測(cè)量粗糙度與輪廓度。
更新時(shí)間:2025-12-03
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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中圖儀器SuperViewW白光粗糙度輪廓儀基于白光干涉核心技術(shù),實(shí)現(xiàn)粗糙度與輪廓度一體化高精度測(cè)量,以全場(chǎng)景適配、高效自動(dòng)化優(yōu)勢(shì),成為B端企業(yè)降本增效的核心檢測(cè)裝備。
更新時(shí)間:2025-11-27
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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中圖儀器SuperViewW光學(xué)微觀幾何輪廓測(cè)量?jī)x具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-05
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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中圖儀器SuperViewW非接觸式光學(xué)三維輪廓儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-10-30
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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?中圖3維形貌輪廓儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-10-17
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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